
      
      AEC-Q200专有名词整理:
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         | 简称 | 
         中文 | 
         英文 | 
         说明 | 
        
        
         | 8D | 
         解决问题方法 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC | 
         汽车电子设备协会 | 
         Automotive Electronic Council | 
         由车厂[克赖斯勒(Chrysler)、福特(Ford)、通用汽车(GM)]发起并创立于1994年,目前会员遍及全球各大汽车厂、汽车电子与半导体厂商。 | 
        
        
         | AEC-Q001 | 
         零件平均测试指导原则 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q002 | 
         统计式良品率分析的指导原则 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q003 | 
         芯片产品的电性表现特性化的指导原则 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q005 | 
         无铅测试要求 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q100 | 
         基于集成电路应力测试认证的失效机理 | 
          | 
         规范了零件供货商所必须达成的产品质量与可靠度,试验条件多仍以JEDEC或MIL-STD为主,外加上其它独立建置的测试手法。 | 
        
        
         | AEC-Q100-001 | 
         邦线切应力测试 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q100-002 | 
         人体模式静电放电测试 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q100-003 | 
         机械模式静电放电测试 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q100-004 | 
         集成电路闩锁效应测试 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q100-005 | 
         可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q100-006 | 
         热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q100-007 | 
         故障仿真和测试等级 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q100-008 | 
         早期寿命失效率(ELFR) | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q100-009 | 
         电分配评估 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q100-010 | 
         锡球剪切测试 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q100-011 | 
         带电器件模式的静电放电测试 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q100-012 | 
         12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q101 | 
         汽车级半导体分立器件应力测试认证 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q200 | 
         无源器件应力测试标准 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q200-001 | 
         阻燃测试 | 
          | 
          | 
        
        
         | AEC-Q200-002 | 
         人体模式静电放电测试 | 
          | 
          | 
        
       
      
      
       自恢复保险丝:-40℃(15min)←→125℃(15min)/300cycles
偏高湿度(MIL-STD-202-103):
钽电容、陶瓷电容:85℃/85%R.H./1000h/电压1.3~1.5V
电感与变压器:85℃/85%R.H./1000h/不通电
铝电解电容:85℃/85%R.H./1000h/额定电压
EMI干扰抑制器、EMI干扰过滤器:85℃/85%R.H./1000h/额定电压&电流
电阻、热敏电阻:85℃/85%R.H./1000h/工作电源10%
自恢复保险丝:85℃/85%R.H./1000h/额定电流10%
可变电容、可变电阻:85℃/85%R.H./1000h/额定功率10%
网络低通滤波器&网络电阻:85℃/85%R.H./1000h/电压[网络电容(额定电压)、网络电阻(10%额定功率)]
变阻器:85℃/85%R.H./1000h/额定电压85%+ma电流
石英震荡器、陶瓷共鸣器:85℃/85%R.H./1000h/额定VDD+1MΩ,并联逆变器,在每个晶体脚和地之间有
2X的晶体CL电容
薄膜电容:40℃/93%R.H./1000h/额定电压
湿度抵抗(MIL-STD-202-106):
薄膜电容:(25℃←→65℃/90%R.H.*2cycle)/18h→-10℃/3h,每一cycle共24h,step7a&7b不通电